提 供 商：
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司資料大小：
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數(shù)：
142點(diǎn)擊下載：
文件下載詳細(xì)介紹：
近年來，隨著科技的發(fā)展和材料尺寸的不斷縮小，掃描電鏡（SEM）已經(jīng)成為一種非常有價值的表征方法。SEM作為一種通用的工具，方便用戶可以對各種各樣的材料進(jìn)行多種不同類型的分析。為獲得更好的結(jié)果，用戶應(yīng)該仔細(xì)設(shè)定SEM參數(shù)。其中一個設(shè)置是束斑直徑，即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中，闡述了如何在SEM中調(diào)整束斑直徑，以及如何在高分辨率成像和大束流之間實現(xiàn)平衡，以獲得*結(jié)果。
如何在SEM下調(diào)整束斑直徑
描述SEM中電子束性質(zhì)的四個主要參數(shù)如圖1所示:
圖1：SEM中電子束的四個主要參數(shù)：加速電壓、會聚角、電子束流和束斑直徑
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
