飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 于 2016 年 3 月落戶北京科技大學(xué)。北京科技大學(xué)的用戶主要觀察各種合金材料中夾雜物相及其拉伸斷裂斷口形態(tài)，飛納臺(tái)式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 配備的背散射電子和二次電子探測器可滿足該用戶所有待觀測樣品的測試需求。觀察合金材料中夾雜物相， Phenom XL 的背散射電子探測器是不錯(cuò)的選擇，因?yàn)槭褂帽成⑸潆娮犹綔y器可以同時(shí)觀察樣品表面的形貌和成分信息，從而幫助用戶區(qū)分出夾雜物。當(dāng)觀察合金材料拉伸斷裂斷口形態(tài)時(shí)，可以使用 Phenom XL 的二次電子探測器，您將獲得清晰立體的斷口形態(tài)掃描電鏡圖像。Phenom XL 采用壽命為 1500 小時(shí)的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，可以顯著提高掃描電鏡圖像的分辨率，提供表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖片。
背散射電子像觀察鋁合金中各種夾雜物相
二次電子觀察鋁合金拉伸斷裂斷口
飛納電鏡操作簡易，非常適合沒有掃描電鏡操作經(jīng)驗(yàn)的用戶。自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)配合光學(xué)導(dǎo)航，僅需 15s 的抽真空時(shí)間，可以方便快速地檢測樣品。能譜 EDS *的反卷積擬合功能使得定性和定量更加準(zhǔn)確可信。飛納臺(tái)式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 必將有力推動(dòng)中國新金屬材料的發(fā)展。
鋁合金中的鐵析出相成分及含量判定
用戶認(rèn)真學(xué)習(xí)飛納電鏡
順利拿到培訓(xùn)合格證書
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